書誌事項
- タイトル別名
-
- GaN パワーデバイス ノ スイッチング トクセイ ニ オケル フカイ ジュンイ ノ エイキョウ
- Effects of Deep Trapping States at High Temperatures on Transient Performances of AlGaN/GaN HFETs
- 電子デバイス
- デンシ デバイス
この論文をさがす
収録刊行物
-
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (380), 63-68, 2013-01
東京 : 電子情報通信学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520853832072503040
-
- NII論文ID
- 110009728020
- 110009727567
-
- NII書誌ID
- AA1123312X
-
- ISSN
- 09135685
-
- 本文言語コード
- ja
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles