一体型無線端末におけるクロック干渉によるBER特性の劣化の評価
書誌事項
- タイトル別名
-
- イッタイガタ ムセン タンマツ ニ オケル クロック カンショウ ニ ヨル BER トクセイ ノ レッカ ノ ヒョウカ
- Evaluation of degradation of the bit error rate characteristic by the clock interference in wireless terminal
- 無線通信システム
- ムセン ツウシン システム
この論文をさがす
収録刊行物
-
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113 (361), 95-100, 2013-12
東京 : 電子情報通信学会
- Tweet
キーワード
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520853832124975744
-
- NII論文ID
- 110009903473
-
- NII書誌ID
- AA1123312X
-
- ISSN
- 09135685
-
- NDL書誌ID
- 025144342
-
- 本文言語コード
- ja
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles