キャリア移動度評価によるシリコンナノワイヤトランジスタの電気特性解析
Bibliographic Information
- Other Title
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- キャリア イドウド ヒョウカ ニ ヨル シリコンナノワイヤトランジスタ ノ デンキ トクセイ カイセキ
- An analysis of effective carrier mobility of silicon nanowire FET
- シリコン材料・デバイス
- シリコン ザイリョウ デバイス
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110 (90), 11-16, 2010-06-22
東京 : 電子情報通信学会
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853832353382144
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- NII Article ID
- 110007890337
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 10752885
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
