論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について
書誌事項
- タイトル別名
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- ロンリ BIST ノ テスト デンリョク セイギョ シュホウ ト TEG ヒョウカ ニ ツイテ
- Evaluation of Flexible Test Power Control for Logic BIST in TEG Chips
- VLSI設計技術 ; デザインガイア2018 : VLSI設計の新しい大地
- VLSI セッケイ ギジュツ ; デザインガイア 2018 : VLSI セッケイ ノ アタラシイ ダイチ
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 118 (334), 125-130, 2018-12
東京 : 電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853832386098816
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- NII論文ID
- 40021775687
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL書誌ID
- 029437521
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles
