SFQ論理ゲートにおける電流比較部の最適化によるビットエラーレートの改善
書誌事項
- タイトル別名
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- SFQ ロンリ ゲート ニ オケル デンリュウ ヒカクブ ノ サイテキ カ ニ ヨル ビットエラーレート ノ カイゼン
- Improvement of Bit-Error-Rate of Single Flux Quantum Logic Gate by Optimizing Gray Zone Width of Comparator
- 超伝導エレクトロニクス
- チョウデンドウ エレクトロニクス
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114 (147), 1-6, 2014-07-23
東京 : 電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853832591174656
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- NII論文ID
- 110009946816
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL書誌ID
- 025633971
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles