ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗とそのモデル(17)
Bibliographic Information
- Other Title
-
- ハンマリングカシンキコウ オヨビ ビシュウドウ キコウ ニ ヨル デンキ セッテン ノ レッカ ゲンショウ : セッショク テイコウ ト ソノ モデル(17)
- Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism and micro-sliding mechanism : Contact resistance (17)
- 機構デバイス
- キコウ デバイス
Search this article
Journal
-
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111 (254), 1-6, 2011-10-21
東京 : 電子情報通信学会
- Tweet
Keywords
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520853832606768768
-
- NII Article ID
- 110008900473
-
- NII Book ID
- AA1123312X
-
- ISSN
- 09135685
-
- NDL BIB ID
- 023343082
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles