高速InP HBTにおけるエミッタ電極の長期通電での劣化現象と高耐熱金属導入による高信頼化
Bibliographic Information
- Other Title
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- コウソク InP HBT ニ オケル エミッタ デンキョク ノ チョウキ ツウデン デ ノ レッカ ゲンショウ ト コウタイネツ キンゾク ドウニュウ ニ ヨル コウシンライカ
- Emitter-metal-related degradation in InP-based HBTs and its suppression by introducing refractory metal
- 信頼性
- シンライセイ
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109 (294), 11-16, 2009-11-20
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853832715696256
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- NII Article ID
- 110007504671
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 10477523
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
