有機ELにおける長期駆動寿命の予測手法の開発と材料劣化機構の解明
書誌事項
- タイトル別名
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- ユウキ EL ニ オケル チョウキ クドウ ジュミョウ ノ ヨソク シュホウ ノ カイハツ ト ザイリョウ レッカ キコウ ノ カイメイ
- Development of Evaluation Technology for Accelerated Lifetime Testing and Non-Destructive Analysis for Long-term Degradation in Organic Light-Emitting Diodes
- 特集 材料の長寿命化への取り組み
- トクシュウ ザイリョウ ノ チョウジュミョウカ エ ノ トリクミ
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収録刊行物
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- 化学工学 = Chemical engineering of Japan
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化学工学 = Chemical engineering of Japan 79 (5), 384-386, 2015-05
東京 : 化学工学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853832798022400
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- NII論文ID
- 40020477101
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- NII書誌ID
- AN00037212
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- ISSN
- 03759253
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- NDL書誌ID
- 026419112
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZP5(科学技術--化学・化学工業--化学工学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
