創案と開発 オージェ電子-光電子コインシデンス分光によるシリコン単結晶表面および酸化シリコン超薄膜の局所電子状態の研究
Bibliographic Information
- Other Title
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- ソウアン ト カイハツ オージェ デンシ-コウデンシ コインシデンス ブンコウ ニ ヨル シリコンタンケッショウ ヒョウメン オヨビ サンカ シリコン チョウハクマク ノ キョクショ デンシ ジョウタイ ノ ケンキュウ
- Study of Local Valence Electronic States of Clean Si Surfaces and Ultrathin SiO₂ Films Grown on Si by Using Auger-Photoelectron Coincidence Spectroscopy
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Journal
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- ぶんせき / 日本分析化学会 編
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ぶんせき / 日本分析化学会 編 2014 (7), 374-380, 2014-07
東京 : 日本分析化学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853832814997760
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- NII Article ID
- 40020143696
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- NII Book ID
- AN00222622
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- ISSN
- 03862178
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- NDL BIB ID
- 025622256
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles