確率ベース手法を用いたマルチサイクルテストにおけるキャプチャパターンの故障検出能力低下問題の解析
書誌事項
- タイトル別名
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- カクリツ ベース シュホウ オ モチイタ マルチサイクルテスト ニ オケル キャプチャパターン ノ コショウ ケンシュツ ノウリョク テイカ モンダイ ノ カイセキ
- Analysis of Fault Detection Degradation Issue in Multi-cycle Test Scheme using Probabilistic Evaluation Method
- VLSI設計技術 ; デザインガイア2019 : VLSI設計の新しい大地
- VLSI セッケイ ギジュツ ; デザインガイア 2019 : VLSI セッケイ ノ アタラシイ ダイチ
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 119 (282), 145-150, 2019-11
東京 : 電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853832939160576
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- NII論文ID
- 40022094241
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL書誌ID
- 030129350
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles
