X線および中性子回折法による残留応力測定技術

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  • Xセン オヨビ チュウセイシ カイセツホウ ニ ヨル ザンリュウ オウリョク ソクテイ ギジュツ

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詳細情報

  • CRID
    1520853833138506368
  • NII論文ID
    10017314187
  • NII書誌ID
    AN00199575
  • ISSN
    02880490
  • NDL書誌ID
    7871975
  • 本文言語コード
    ja
  • NDL 雑誌分類
    • ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • データソース種別
    • NDL
    • CiNii Articles

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