薄切・試料支持・電子染色におけるトラブルシューティング
Bibliographic Information
- Other Title
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- ウスギリ シリョウ シジ デンシ センショク ニ オケル トラブルシューティング
- Troubleshooting in thin sectioning, specimen support, and electron staining
- 特集 電子顕微鏡試料作製におけるトラブルシューティング
- トクシュウ デンシ ケンビキョウ シリョウ サクセイ ニ オケル トラブルシューティング
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Journal
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- 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編
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顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 42 (1), 7-9, 2007
東京 : 日本顕微鏡学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853833260908416
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- NII Article ID
- 10018912830
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- NII Book ID
- AA11917781
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- ISSN
- 13490958
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- NDL BIB ID
- 8780801
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
