ランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を用いたBASTアーキテクチャにおけるテストパターンマッチング法
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- ランダムパターン レジスタント コショウ ケンシュツヨウ ドント ケア チュウシュツ オ モチイタ BAST アーキテクチャ ニ オケル テスト パターン マッチングホウ
- A test pattern matching method on BAST architecture using don't care identification for the detection of random pattern resistant faults
- ディペンダブルコンピューティング
- ディペンダブル コンピューティング
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110 (106), 19-24, 2010-06-25
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853833286500352
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- NII Article ID
- 110007889792
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL BIB ID
- 10751119
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles