コンタクトエピタキシャル法による酸化物結晶薄膜の方位制御に関する検討
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- コンタクトエピタキシャルホウ ニ ヨル サンカブツ ケッショウ ハクマク ノ ホウイ セイギョ ニ カンスル ケントウ
- Study of a Control Oxide Thin Film Orientation by Crystal Contact Epitaxy
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Journal
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- 沼津工業高等専門学校研究報告 = National Institute of Technology Numazu College research annual
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沼津工業高等専門学校研究報告 = National Institute of Technology Numazu College research annual (49), 21-24, 2015-01
沼津 : 沼津工業高等専門学校
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853833299633920
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- NII Article ID
- 110009889991
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- NII Book ID
- AN00199473
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- ISSN
- 02862794
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- NDL BIB ID
- 026235857
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZV1(一般学術誌--一般学術誌・大学紀要)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles