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MOSFETの雑音特性を計測する新手法を開発
Bibliographic Information
- Other Title
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- MOSFET ノ ザツオン トクセイ オ ケイソク スル シン シュホウ オ カイハツ
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Journal
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- 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation
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日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (1122), 87-93, 2013-11-25
東京 : 日経BP
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853833489563392
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- NII Article ID
- 40019872818
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- NII Book ID
- AN0018467X
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- ISSN
- 03851680
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- NDL BIB ID
- 025011736
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL Search
- CiNii Articles