バイオナノプロセスを用いたフィラメント制御および抵抗変化メモリにおける効果 : 薄膜中の局所欠陥制御
Bibliographic Information
- Other Title
-
- バイオナノプロセス オ モチイタ フィラメント セイギョ オヨビ テイコウ ヘンカ メモリ ニ オケル コウカ : ハクマク チュウ ノ キョクショ ケッカン セイギョ
- Effects of Guided Filament Formation in NiO-ReRAM Utilizing Bio Nano Process : Control of defects in thin films
- 有機エレクトロニクス
- ユウキ エレクトロニクス
Search this article
Journal
-
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (19), 15-20, 2012-04
東京 : 電子情報通信学会
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520853833540352256
-
- NII Article ID
- 110009564185
- 110009564362
-
- NII Book ID
- AA1123312X
-
- ISSN
- 09135685
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles