書誌事項
- タイトル別名
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- マイクロハ ニ ヨル ブッセイ ヒョウカ ト ケッカン ケンシュツ
- Property evaluation and defect detection by microwave
- 特集 電界計測を基盤とする非破壊評価手法の適用と展開
- トクシュウ デンカイ ケイソク オ キバン ト スル ヒハカイ ヒョウカ シュホウ ノ テキヨウ ト テンカイ
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収録刊行物
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- 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編
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非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 59 (5), 227-230, 2010-05
[東京] : 日本非破壊検査協会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853833615791104
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- NII論文ID
- 10026320399
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- NII書誌ID
- AN00208370
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- ISSN
- 03675866
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- NDL書誌ID
- 10693326
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN