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Bibliographic Information
- Other Title
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- クミアワセ カイロヨウ テストパターン セイセイ エ ノ ケイサンキ ダイスウ システム ノ リヨウ ニ カンスル チョウサ
- Study on Deployment of a Computer Algebra System for Generating Random Test Patterns for Combinational Circuits
- ソフトウェアサイエンス
- ソフトウェア サイエンス
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117 (381), 59-64, 2018-01
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853833647365248
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- NII Article ID
- 40021463821
- 40021464385
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- NII Book ID
- AN10013287
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL Search
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