ランダム・テレグラフ・ノイズが低電圧CMOS論理回路の遅延ゆらぎに及ぼす影響

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  • ランダム ・ テレグラフ ・ ノイズ ガ テイデンアツ CMOS ロンリ カイロ ノ チエンユラギ ニ オヨボス エイキョウ
  • Impact of Random Telegraph Noise on CMOS Logic Delay Uncertainty under Low Voltage Operation
  • シリコン材料・デバイス・IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術)
  • シリコン ザイリョウ ・ デバイス ・ IEDM トクシュウ(センタン CMOS デバイス ・ プロセス ギジュツ)

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