Experimental investigation of pattern layout effect on radio-frequency performance of thin-film silicon-on-insulator power metal-oxide-semiconductor field-effect transistors
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- タイトル別名
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- Experimental investigation of pattern layout effect on radio frequency performance of thin film silicon on insulator power metal oxide semiconductor field effect transistors
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抄録
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌
収録刊行物
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- Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP
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Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP 46 (9A), 5691-5694, 2007-09
Tokyo : Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853834353548416
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- NII論文ID
- 40015602570
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- NII書誌ID
- AA10457675
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- ISSN
- 00214922
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- NDL書誌ID
- 8909065
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles