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CMOS論理ICの交流電界印加時の電源電流測定によるピン浮き検出法
Bibliographic Information
- Other Title
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- CMOS ロンリ IC ノ コウリュウ デンカイ インカジ ノ デンゲン デンリュウ ソクテイ ニ ヨル ピン ウキ ケンシュツホウ
- Published
- 2003-03
- Resource Type
- journal article
- Publisher
- 東京 : エレクトロニクス実装学会
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Journal
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- エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging
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エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging 6 (2), 140-146, 2003-03
東京 : エレクトロニクス実装学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853834658559360
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- NII Article ID
- 10013958458
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- NII Book ID
- AA11231565
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- ISSN
- 13439677
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- NDL BIB ID
- 6483876
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- Text Lang
- ja
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- Article Type
- journal article
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
-
- NDL Search
- CiNii Articles
- KAKEN
