ばらつきを有するICで構成したTTL回路の電源電流による統計的断線故障検出法
Bibliographic Information
- Other Title
-
- バラツキ オ ユウスル IC デ コウセイ シタ TTL カイロ ノ デンゲン デンリュウ ニ ヨル トウケイテキ ダンセン コショウ ケンシュツホウ
Search this article
Journal
-
- エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging
-
エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging 8 (3), 199-207, 2005-05
東京 : エレクトロニクス実装学会
- Tweet
Keywords
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520853834658646016
-
- NII Article ID
- 10015530074
-
- NII Book ID
- AA11231565
-
- ISSN
- 13439677
-
- NDL BIB ID
- 7350581
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- Data Source
-
- NDL Search
- CiNii Articles