ばらつきを有するICで構成したTTL回路の電源電流による統計的断線故障検出法
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- バラツキ オ ユウスル IC デ コウセイ シタ TTL カイロ ノ デンゲン デンリュウ ニ ヨル トウケイテキ ダンセン コショウ ケンシュツホウ
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Journal
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- エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging
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エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging 8 (3), 199-207, 2005-05
東京 : エレクトロニクス実装学会
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853834658646016
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- NII Article ID
- 10015530074
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- NII Book ID
- AA11231565
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- ISSN
- 13439677
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- NDL BIB ID
- 7350581
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles