アバランシェフォトダイオード電子検出器の劣化と回復
書誌事項
- タイトル別名
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- アバランシェフォトダイオード デンシ ケンシュツキ ノ レッカ ト カイフク
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収録刊行物
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- 技術職員等による技術報告集 = Technical reports of technical associates
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技術職員等による技術報告集 = Technical reports of technical associates 8 9-16, 2012-10-24
東京 : 駒場キャンパス技術発表会実行委員会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853834788883584
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- NII論文ID
- 40019462559
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- NII書誌ID
- AA12294028
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- ISSN
- 18822029
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- NDL書誌ID
- 024036184
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles