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SiO2膜の薄膜化と信頼性
Bibliographic Information
- Other Title
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- SiO2 マク ノ ハクマクカ ト シンライセイ
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Description
記事分類: 電気工学--電子工学--電子部品--固体素子
Journal
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- 応用物理
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応用物理 59 (11), p1491-1495, 1990-11
東京 : 応用物理学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853835182974720
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- NII Article ID
- 40000280380
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- NII Book ID
- AN00026679
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- ISSN
- 03698009
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- NDL BIB ID
- 3691565
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
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- Data Source
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- NDL Search
- CiNii Articles