故障解析における半導体デバイスに対するX線照射の影響
書誌事項
- タイトル別名
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- コショウ カイセキ ニ オケル ハンドウタイ デバイス ニ タイスル Xセン ショウシャ ノ エイキョウ
- Influence of X-ray irradiation to a semiconductor devices in a failure analysis
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収録刊行物
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- 信頼性・保全性シンポジウム = The Symposium on Reliability and Maintainability
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信頼性・保全性シンポジウム = The Symposium on Reliability and Maintainability 47 278-283, 2017-07
[東京] : [日本科学技術連盟]
