高信頼性携帯電話基地局用GaN HEMTの開発
書誌事項
- タイトル別名
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- コウシンライセイ ケイタイ デンワ キチキョクヨウ GaN HEMT ノ カイハツ
- Development of High Reliability GaN HEMT for Cellular Base Stations
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収録刊行物
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- 住友電工テクニカルレビュー = Technical review : 住友電工グループ技術論文誌
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住友電工テクニカルレビュー = Technical review : 住友電工グループ技術論文誌 (182), 75-79, 2013-01
大阪 : 住友電気工業
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520854806228956288
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- NII論文ID
- 40019572394
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- NII書誌ID
- AA11234530
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- ISSN
- 13434330
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- NDL書誌ID
- 024250720
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles