VLSI時代のICテストシステムの技術動向と製造について
書誌事項
- タイトル別名
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- VLSI ジダイ ノ IC テスト システム ノ ギジュツ ドウコウ ト セイ
- 浜北事業場紹介(小特集)
- ハマキタ ジギョウバ ショウカイ ショウ トクシュウ
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抄録
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
収録刊行物
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- 安藤技報 / 安藤技報編集委員会 編
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安藤技報 / 安藤技報編集委員会 編 (64), p7-11, 1984-11
東京 : 安藤電気
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1521136279948283136
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- NII論文ID
- 40000107287
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- NII書誌ID
- AN00012856
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- ISSN
- 03856852
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- NDL書誌ID
- 3018145
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles