超音波と光を利用した表層欠陥を可視化する非破壊検査装置 超音波光探傷装置MAIVIS MIV-500の開発
Bibliographic Information
- Other Title
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- チョウオンパ ト ヒカリ オ リヨウ シタ ヒョウソウ ケッカン オ カシカ スル ヒハカイ ケンサ ソウチ チョウオンパ ヒカリタンショウ ソウチ MAIVIS MIV-500 ノ カイハツ
- Development of the MAIVIS MIV-500 Ultrasonic Optical Flaw Detector : A New Non-destructive Inspection Device that Uses Ultrasound and Light to Visualize Surface Defects
- 特集 産業機器
- トクシュウ サンギョウ キキ
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- 島津評論 / 島津評論編集部 [編]
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島津評論 / 島津評論編集部 [編] 78 (1・2), 101-109, 2021
京都 : 島津評論編集部 ; 1940-
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1521136281235829760
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- NII Article ID
- 40022719459
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- NII Book ID
- AN00107544
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- ISSN
- 0371005X
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- NDL BIB ID
- 031758646
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN11(科学技術--機械工学・工業)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles