無効審判事件分析による特許審査の質の検証
書誌事項
- タイトル別名
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- ムコウ シンパン ジケン ブンセキ ニ ヨル トッキョ シンサ ノ シツ ノ ケンショウ
- Verifying Patent Examination Quality by Analyzing Invalidation Trial Cases
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収録刊行物
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- 知財管理 = Intellectual property management / 日本知的財産協会会誌広報委員会 編
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知財管理 = Intellectual property management / 日本知的財産協会会誌広報委員会 編 67 (1), 40-50, 2017-01
東京 : 日本知的財産協会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1521699229889161472
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- NII論文ID
- 40021053989
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- NII書誌ID
- AN10468629
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- ISSN
- 1340847X
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- NDL書誌ID
- 027832497
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM26(科学技術--科学技術一般--特許・規格)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles