表面・薄膜物理学 原子テクノロジーの源流(第12章)RHEED励起X線全反射角分光法の開発と応用(1)新しい高感度表面元素分析法
書誌事項
- タイトル別名
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- ヒョウメン ・ ハクマク ブツリガク ゲンシ テクノロジー ノ ゲンリュウ(ダイ12ショウ)RHEEDレイキXセン ゼン ハンシャカク ブンコウホウ ノ カイハツ ト オウヨウ(1)アタラシイ コウカンド ヒョウメン ゲンソ ブンセキホウ
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収録刊行物
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- 金属
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金属 83 (2), 155-164, 2013-02
東京 : アグネ技術センター
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1521699229897795712
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- NII論文ID
- 40019571635
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- NII書誌ID
- AN00272132
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- ISSN
- 03686337
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- NDL書誌ID
- 024249530
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles