Soft X-ray Photoemission Study of New BiS₂-Layered Superconductor LaO₁₋xFxBiS₂
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収録刊行物
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- Journal of the Physical Society of Japan
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Journal of the Physical Society of Japan 83 (3), 2014-03
Tokyo : Physical Society of Japan
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1521699230372185216
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- NII論文ID
- 40020017647
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- NII書誌ID
- AA00704814
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- ISSN
- 00319015
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- NDL書誌ID
- 025345591
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles