低領域標準抵抗器の校正における不確かさの評価
Bibliographic Information
- Other Title
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- テイリョウイキ ヒョウジュン テイコウキ ノ コウセイ ニ オケル フ タシカ サ ノ ヒョウカ
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コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 地方公共団体 > 都道府県 > 東京都
Journal
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- 研究報告 / 東京都立産業技術研究所 [編]
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研究報告 / 東京都立産業技術研究所 [編] (4), 9-12, 2001-12
東京 : 東京都立産業技術研究所
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1521699231014771328
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- NII Article ID
- 40005223944
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- NII Book ID
- AA11425856
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- ISSN
- 13444867
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- NDL BIB ID
- 6065135
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- Data Source
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- NDL Search
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