Analysis of Kohn-Sham Eigenfunctions Using a Convolutional Neural Network in Simulations of the Metal-Insulator Transition in Doped Semiconductors
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収録刊行物
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- Journal of the Physical Society of Japan
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Journal of the Physical Society of Japan 90 (9), 094001-, 2021-09
Tokyo : Physical Society of Japan
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1521980706152044928
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- NII論文ID
- 40022680219
- 210000159249
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- NII書誌ID
- AA00704814
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- ISSN
- 00319015
- 13474073
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- NDL書誌ID
- 031677553
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN