解析・評価技術編 イメージングFT-IRによる微小異物分析
書誌事項
- タイトル別名
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- カイセキ ヒョウカ ギジュツヘン イメージング FT IR ニ ヨル ビショウ イブツ ブンセキ
- 特集 エレクトロニクス分野の検査・計測・解析技術の最新動向
- トクシュウ エレクトロニクス ブンヤ ノ ケンサ ケイソク カイセキ ギジュツ ノ サイシン ドウコウ
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収録刊行物
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- 電子材料
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電子材料 48 (9), 69-72, 2009-09
東京 : 工業調査会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1522262180211278976
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- NII論文ID
- 40016812963
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- NII書誌ID
- AN00153166
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- ISSN
- 03870774
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- NDL書誌ID
- 10424046
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles