Micro-Photoluminescence Study on the Influence of Oxidation on Stacking Faults in 4H-SiC Epilayers
この論文をさがす
収録刊行物
-
- Applied physics express : APEX
-
Applied physics express : APEX 5 (5), 051302-, 2012-05
Tokyo : Japan Society of Applied Physics
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1522543654759905920
-
- NII論文ID
- 10030593386
-
- NII書誌ID
- AA12295133
-
- ISSN
- 18820778
- 18820786
-
- NDL書誌ID
- 023672838
-
- 本文言語コード
- en
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZM35(科学技術--物理学)
-
- データソース種別
-
- NDL
- Crossref
- CiNii Articles
- KAKEN