SIMS分析を用いた表面ならびに深さ組成観察
Bibliographic Information
- Other Title
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- SIMS ブンセキ オ モチイタ ヒョウメン ナラビニ フカサ ソセイ カンサツ
- 特集 表面性状を識る
- トクシュウ ヒョウメン セイジョウ オ シル
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Journal
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- Polyfile = ポリファイル : 高分子関連技術情報誌
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Polyfile = ポリファイル : 高分子関連技術情報誌 38 (7), 36-39, 2001-07
東京 : 大成社
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1522543655311947776
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- NII Article ID
- 40019842218
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- NII Book ID
- AN10153107
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- ISSN
- 09102175
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- NDL BIB ID
- 024956616
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZP16(科学技術--化学・化学工業--高分子化学・高分子化学工業)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
