Experimental characterization of quasi-Fermi potential profile in the channel of a silicon nanowire field-effect transistor with four-terminal geometry
書誌事項
- タイトル別名
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- Experimental characterization of quasi Fermi potential profile in the channel of a silicon nanowire field effect transistor with four terminal geometry
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収録刊行物
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- Applied physics express : APEX
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Applied physics express : APEX 4 (4), 044201-, 2011-04
Tokyo : Japan Society of Applied Physics
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1522543655606025088
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- NII論文ID
- 10028209795
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- NII書誌ID
- AA12295133
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- ISSN
- 18820778
- 18820786
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- NDL書誌ID
- 11074916
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDL
- Crossref
- CiNii Articles