Real-Space Analysis of Scanning Tunneling Microscopy Topography Datasets Using Sparse Modeling Approach

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1522825129767363200

• NII論文ID

  210000134794

  40021518712

• NII書誌ID

  AA00704814

• ISSN

  00319015

  13474073

• DOI

  10.7566/jpsj.87.044801

• NDL書誌ID

  028935460

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/028935460

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I028935460

  https://journals.jps.jp/doi/pdf/10.7566/JPSJ.87.044801

• 本文言語コード

  en

• NDL 雑誌分類

  • ZM35(科学技術--物理学)

• データソース種別

  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
  • KAKEN