ストレス潰瘍--ストレス潰瘍の成因--Optoelectronics法を用いた無侵襲,循環・代謝反応解析によるアプローチ(臨床ゼミナール)
Bibliographic Information
- Other Title
-
- ストレス カイヨウ ストレス カイヨウ ノ セイイン Optoelectron
Search this article
Abstract
資料形態 : テキストデータ プレーンテキスト
Journal
-
- 綜合臨牀 = Clinic all-round
-
綜合臨牀 = Clinic all-round 26 (11), p2840-2846, 1977-11
大阪 : 永井書店
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1522825129865730688
-
- NII Article ID
- 40002231199
-
- NII Book ID
- AN00134456
-
- ISSN
- 03711900
-
- NDL BIB ID
- 1915663
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZS7(科学技術--医学)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles
