Depth-Profiling Analysis of Multilayer Samples with Two-Dimensional Fourier Transform Infrared Multiple-Angle Attenuated Total Reflection Spectroscopy

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1523388079599470976

• NII論文ID

  40004729714

• NII書誌ID

  AN10087636

• ISSN

  0914630X

• NDL書誌ID

  5669243

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/5669243

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5669243

• 本文言語コード

  en

• NDL 雑誌分類

  • ZP48(科学技術--印写工学)

• データソース種別

  • NDLサーチ
  • CiNii Articles