散乱X線の理論強度を用いるSnめっき中Pbの蛍光X線分析 : EDXによるRoHS指令元素の蛍光X線分析
書誌事項
- タイトル別名
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- サンラン Xセン ノ リロン キョウド オ モチイル Snメッキ チュウ Pb ノ ケイコウ Xセン ブンセキ : EDX ニ ヨル RoHS シレイ ゲンソ ノ ケイコウ Xセン ブンセキ
- X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays : Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)
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収録刊行物
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- 島津評論 / 島津評論編集部 [編]
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島津評論 / 島津評論編集部 [編] 69 (1・2), 181-188, 2012
京都 : 島津評論編集部 ; 1940-
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1523388080465157632
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- NII論文ID
- 40019460196
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- NII書誌ID
- AN00107544
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- ISSN
- 0371005X
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- NDL書誌ID
- 024032498
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN11(科学技術--機械工学・工業)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles