電子線およびX線による結晶性材料の構造解析技術
書誌事項
- タイトル別名
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- デンシセン オヨビ Xセン ニ ヨル ケッショウセイ ザイリョウ ノ コウゾウ カイセキ ギジュツ
- Crystallographic analysis using an electron beam and X-ray beam
- 特集 解析・評価技術
- トクシュウ カイセキ ヒョウカ ギジュツ
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収録刊行物
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- 富士時報 = Fuji electric journal
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富士時報 = Fuji electric journal 80 (3), 182-185, 2007-05
東京 : 富士電機技術開発本部 ; [1935]-2012
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1523951029565108096
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- NII論文ID
- 40015559857
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- NII書誌ID
- AN00217950
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- ISSN
- 03673332
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- NDL書誌ID
- 8881188
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles