32nmノード以降の計測技術
書誌事項
- タイトル別名
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- 32nm ノード イコウ ノ ケイソク ギジュツ
- 全冊特集 45nm/32nm世代の半導体製造・試験装置
- ゼンサツ トクシュウ 45nm 32nm セダイ ノ ハンドウタイ セイゾウ シケン ソウチ
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収録刊行物
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- 電子材料
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電子材料 48 (3), 16-26, 2009-03
東京 : 工業調査会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1524232505417208064
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- NII論文ID
- 40016496414
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- NII書誌ID
- AN00153166
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- ISSN
- 03870774
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- NDL書誌ID
- 10187837
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles