書誌事項
- タイトル別名
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- カクド ブンカイ コウデンシ ブンコウホウ ニ ヨル フカサ ホウコウ ソセイ ブンセキ ノ コウセイドカ ノ ココロミ
- New approach to highly accurate depth profiling using angle-resolved photoelectron spectroscopy
- 特集 極薄膜の深さ方向分析
- トクシュウ キョクハクマク ノ フカサ ホウコウ ブンセキ
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収録刊行物
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- 表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
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表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編 28 (11), 620-625, 2007-11
東京 : 日本表面科学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1524232505511469184
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- NII論文ID
- 10019784350
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- NII書誌ID
- AN00334149
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- ISSN
- 03885321
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- NDL書誌ID
- 9265491
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles