On the application of the weak-beam technique to the determination of the sizes of small point-defect clusters in ion-irradiated copper
この論文をさがす
収録刊行物
-
- Journal of electron microscopy
-
Journal of electron microscopy 48 (4), 323-332, 1999
Oxford : Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1524232505702185216
-
- NII論文ID
- 10008814969
-
- NII書誌ID
- AA00697060
-
- ISSN
- 00220744
-
- NDL書誌ID
- 4835461
-
- 本文言語コード
- en
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles
