組込みソフトウェア開発における設計関連メトリクスに基づく下流試験欠陥数の予測
書誌事項
- タイトル別名
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- クミコミ ソフトウェア カイハツ ニ オケル セッケイ カンレン メトリクス ニ モトズク カリュウ シケン ケッカンスウ ノ ヨソク
- Predicting Faults After Unit Testing Using Design Phase Metrics in Embedded Software Development
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抄録
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 独立行政法人
収録刊行物
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- SEC journal / 情報処理推進機構技術本部ソフトウェア・エンジニアリング・センター 編
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SEC journal / 情報処理推進機構技術本部ソフトウェア・エンジニアリング・センター 編 11 (2), 16-23, 2015-09
東京 : 情報処理推進機構技術本部ソフトウェア・エンジニアリング・センター
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1524232505854209792
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- NII論文ID
- 40020598616
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- NII書誌ID
- AA12006098
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- ISSN
- 13498622
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- NDL書誌ID
- 026762010
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM13(科学技術--科学技術一般--データ処理・計算機)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN