端子圧着部接続信頼性に関するCAE解析によるアプローチ
書誌事項
- タイトル別名
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- NUMERICAL MODEL OF CRIMPING BY FINITE ELEMENT METHOD
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説明
有限要素法により端子圧着部のモデル化を行い、クリープによる瞬間歪みの概念を導入する事で圧着メカニズムの解明、及び接続信頼性への端子形状の効果について検討を行った。その結果、圧着過程に於いて弾性歪みの一部が瞬間歪みに変換される事で、黄銅(端子)のスプリングバック量が軟銅(電線導体)のそれよりも低下する事が圧着時の接圧発生の原因と考えられる。更にバレル形状に着目し、バレル展開長の大小による接触圧力の差異を検討した結果、バレル展開長の長いものの方が接圧大であり、電気的な面での高接続信頼性が期待される。
Numerical mode of crimping by finite element method is proposed, and the concept of an instantaneous strain by a creep is introduced to this model. The spring-back quantity is reduced by the exchange of elastic strain to instantaneous strain, and contact force occurs between the barrel and conductors. The hinge model is also proposed to explain the effect of the barrel length; crimps with a long barrel have higher contact pressure. The contact pressure of short and long barrel crimps are 2.5kg/mm^2 and more than 3kg/mm^2, respectively.
収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告. EMD, 機構デバイス
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電子情報通信学会技術研究報告. EMD, 機構デバイス 96 (542), 37-42, 1997-02-21
一般社団法人電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1570009752432750848
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- NII論文ID
- 110003293186
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- NII書誌ID
- AN10383978
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- 本文言語コード
- en
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- データソース種別
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- CiNii Articles