C-5-11 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象(第3報) : 加振機構のモデリング(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
書誌事項
- タイトル別名
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- C-5-11 Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanisin : inodeling of the oscillating mechanism
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会総合大会講演論文集
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電子情報通信学会総合大会講演論文集 2008 (2), 11-, 2008-03-05
一般社団法人電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1570572702347186304
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- NII論文ID
- 110006865576
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- NII書誌ID
- AN10471452
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles