A-3-5 Feedback付きState Dependent Scan Flip-Flopを用いたセキュアスキャンアーキテクチャ(A-3.VLSI設計技術,一般セッション)

書誌事項

タイトル別名
  • A-3-5 Secure Scan Architecture Using State Dependent Scan Flip-Flop with Feedback

この論文をさがす

収録刊行物

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1570854177927150720
  • NII論文ID
    110009591291
  • NII書誌ID
    AN10489017
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

問題の指摘

ページトップへ